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EAST上由垂直不穩(wěn)定性引發(fā)破裂的分析與預(yù)測(cè)
關(guān)鍵詞：破裂 垂直不穩(wěn)定性 物理事件 破裂預(yù)測(cè)
摘要：從EAST 裝置2016 年的放電實(shí)驗(yàn)中,選取了119 次等離子體破裂放電數(shù)據(jù),分析誘發(fā)等離子體破裂的原因,發(fā)現(xiàn)約60%的破裂是由垂直不穩(wěn)定性直接引起的,其破裂后將會(huì)產(chǎn)生更大的暈電流,從而產(chǎn)生更大的電磁應(yīng)力損壞裝置。對(duì)由垂直不穩(wěn)定性引起的破裂(簡(jiǎn)稱為VID)(72 次放電)進(jìn)行了研究,建立了分別基于單變量(垂直位移)和兩維變量(垂直位移、垂直位移增長率)的預(yù)測(cè)模型用于對(duì)VID 破裂的預(yù)測(cè)。離線測(cè)試表明,基于兩維變量的預(yù)測(cè)模型可以在破裂發(fā)生前20ms 給出破裂預(yù)警信號(hào),預(yù)測(cè)成功率達(dá)93%。
核聚變與等離子體物理雜志要求:
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