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單粒子多瞬態(tài)誘導(dǎo)的組合電路軟錯誤敏感性評估
關(guān)鍵詞：fpga 組合電路 單粒子多瞬態(tài) 軟錯誤
摘要：為了評估數(shù)字電路的軟錯誤敏感性,研究了一種適于FPGA的單粒子多瞬態(tài)(SEMT)誘導(dǎo)的組合電路軟錯誤評估方法.考慮脈沖傳輸過程中受到的電氣屏蔽的影響和輻射粒子入射的隨機(jī)性,控制不同脈寬的SEMT脈沖對所有SEMT故障位置進(jìn)行故障注入,統(tǒng)計(jì)錯誤結(jié)果.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法能對單粒子兩個及以上瞬態(tài)誘導(dǎo)的組合電路軟錯誤敏感性進(jìn)行分析,得到各故障位置敏感度信息,供電路設(shè)計(jì)前端參考改進(jìn).
微電子學(xué)與計(jì)算機(jī)雜志要求:
{1}作者是指科研內(nèi)容的構(gòu)思，具體研究工作的執(zhí)行及撰稿執(zhí)筆等方面的主要貢獻(xiàn)人員，能夠?qū)φ撐牡闹饕獌?nèi)容負(fù)責(zé)答辯的人員，是論文的法定主權(quán)人和責(zé)任者。作者署名不宜過多，一般不超過8名。
{2}所投稿件要求觀點(diǎn)明確，論據(jù)可靠，層次分明，論述精練，語言準(zhǔn)確，符合規(guī)范。
{3}文題:力求簡明，能夠準(zhǔn)確反映文章主題。中文文題一般不超過20個漢字，盡量不設(shè)副標(biāo)題、不用標(biāo)點(diǎn)符號、不使用縮略語，中英文題名含義應(yīng)一致。
{4}參考文獻(xiàn)，用于說明文中引文的出處，一律放在文末。
{5}選用３~８個詞或詞組反映論文的中心內(nèi)容，同時應(yīng)翻譯為相應(yīng)的英文關(guān)鍵詞。題名、作者姓名、作者單位、摘要、關(guān)鍵詞的英譯置于文末。
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